Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie 12

Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie 12 Caratteristiche | Dispositivo di test a strati per scheda madre XINZHIZAO 4 in 1 - Supporta il rilevamento simultaneo di due schede madri. - Posizioni precise e di alta qualità dei pin garantiscono che gli strati della scheda madre siano ben collegati. - L'aspetto della tecnologia 3D si aggiorna con un corpo in lega di alluminio, più resistente alle alte temperature. - Durezza estrema, non facile da deformare, abbastanza resistente. - Il suo design portatile ti consente di portarlo ovunque tu vada.   Modelli di supporto - Apple iPhone 12/12mini/12Pro/12Pro Max Specifiche - Marca: XINZHIZAO - Modello: supporta la serie iPhone 12 - Nome: dispositivo di test a strati per scheda madre fronte-retro 4 in 1 - Materiale: lega di alluminio - Peso lordo: 500 g   Passaggi di utilizzo del dispositivo di test funzionale della scheda madre 4 in 1 - Passaggio 1: posizionare le schede di radiofrequenza sul telaio - Passaggio 2: posiziona la bacheca a strati sopra lo schermo della scheda madre - Passaggio 3: posizionare la scheda madre logica sulla bacheca di test - Passaggio 4: metti insieme tutti i componenti, quindi allaccia le fibbie su entrambi i lati